製品情報
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シャッターテスター/絞り面積計

SLE-3700

シャッターテスター(LENS)

SLE-3700

高精度波形メモリー解析方式のレンズシャッター試験機

The lens shutter tester of a high precision waveform memory analysis scheme

  • 閉じ動作検出点設定機能、バウンド検出機能搭載
  • 絞り口径誤差測定
  • 15回/秒の連続測定対応
  • Closing detect pointe setting function and bound detect function
  • Iris diaphragm caliber error measurement
  • 15times/second continuous measurement correspondence

仕様 / Specifications

被測定物(Measurement shutter) The shutter unit for digital cameras
測定項目(Measuring items) Full open time(T1)
Closing operating time(T2)
Effective time of exposure(TE)
Aperture value(Av)
Difference of exposure value or difference of aperture value (⊿EV)
T2閉じ動作検出点(T2 Point detecting [closing operation]) 0-100%, 5-95%, 10-90%, 15-85%, 20-80%
測定有効絞り口径(measuring effective aperture diameter) φ14.0〜φ1.0
測定範囲(Measuring range) ±4EV(light exposure error)
1〜11AV (Apature value)
1/30〜1/4,000s(Time of exposure)
測定精度(Measurement accuracy) ±15μs(At the time of a second)
±0.05EV(Aperture value, Exposure value)
±0.03EV(IRIS mode Aperture value measurement)
電源(Power Supply) AC100〜240V(50Hz/60Hz)・90VA
外形寸法(Dimensions) Control unit        130(W)×127(H)×286(D)mm・5kg
Light Source and Receptor 90(W)×169(H)×304(D)mm・2kg
外部インターフェース(External interface) RS232C